更新時間:2020-05-25
泰克數(shù)字采樣示波器電氣模塊信號測量精度:超低系統(tǒng)抖動(<100 fs,典型值)> 70GHz<100 fs 本底抖動允許對高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)設(shè)備進行檢定,典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定(數(shù)據(jù)速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數(shù)據(jù)速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波)。
泰克數(shù)字采樣示波器
電氣模塊信號測量精度:
在所有帶寬上實現(xiàn)業(yè)內(nèi)較低的系統(tǒng)噪聲:
單臺主機內(nèi)多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。
光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網(wǎng)所有標準速率的光一致性測試。
優(yōu)異的采集吞吐量,采樣率高達 300 kS/s。
能夠?qū)⒉蓸悠鞣诺奖粶y設(shè)備 (DUT) 的附近。
獨立的已校準通道相差校正。
泰克數(shù)字采樣示波器 優(yōu)勢:
<100 fs 本底抖動允許對高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)設(shè)備進行檢定,典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定(數(shù)據(jù)速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數(shù)據(jù)速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波)。
較大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量,避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。
多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試,提高多個高速串行通道系統(tǒng)的測試吞吐量。
為單模和多模光標準提供經(jīng)濟實惠、功能多樣的光測試系統(tǒng),從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太網(wǎng))和 100 Gb/s 以太網(wǎng)(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波長 850、1310 和 1550nm。
通過優(yōu)異的系統(tǒng)吞吐量,可將制造或設(shè)備檢定測試時間縮短 4 倍。
遠程采樣頭較大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化,簡化測試系統(tǒng)的反嵌。
雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正,消除時滯,增強多通道測量的信號保真度。
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